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SAE J2527 標準專用檢測儀器氙燈老化試驗箱

SAE J2527 標準專(zhuan)用檢測儀器(qi)氙燈老化試驗箱KSD-XD-576W

SAE國際?? 汽車表面標準?? ?SAE J2527?? ?FEB2004發行
2004-02發行
用(yong)受(shou)輻射(she)氙弧(hu)裝置加速照射(she)汽車外部(bu)材料的性能標(biao)準

1 范圍
1.1 此SAE標準規定了用受輻射氙弧裝置加速照射汽車外部材料的操作程序。
1.2 是基于SAE J1960試驗參數的性能標準。
1.3 不同汽車制造的材料標準里涵蓋了試樣準備，試驗持續期和性能評價方法。
1.4 通(tong)(tong)過材料試(shi)驗(yan)比較(jiao)SAE J1960和進行SAE J2527批準的(de)器具決定(ding)可以進行此(ci)試(shi)驗(yan)的(de)設備(bei)。比較(jiao)新(xin)(xin)試(shi)驗(yan)設備(bei)和原有試(shi)驗(yan)設備(bei)的(de)試(shi)驗(yan)協(xie)議(yi)應通(tong)(tong)過七(qi)月方的(de)材料試(shi)驗(yan)比較(jiao)。有興趣的(de)契約公司應確認試(shi)驗(yan)協(xie)議(yi)細節和試(shi)驗(yan)材料。此(ci)試(shi)驗(yan)方法出版時，委員會發行了SAE J2413 “試(shi)驗(yan)新(xin)(xin)設備(bei)核實協(xie)議(yi)”。

2 參考
2.1 適用出版物
以下出版物組成了此標準的一部分去擴展在這里的規定。SAE最新發行刊物也適用。
2.2 SAE出版物
Available from SAE, 400 Commonwealth Drive, Warrendale, PA 15096-0001. www.sae.org
SAE J1545 – Instrumental Color Difference Measurement for Exterior Finishes, Textiles and Colored Trim, Recommended Practice
SAE J1960 – Accelerated Exposure of Automotive Exterior Materials Using a Controlled Irradiance Water Cooled Xenon Arc Apparatus

SAE技術標準規則管理委員會指出：“SAE出版此報告為了提高目前技術和工程科學。完全志愿使用，且其特殊使用的適用性和適宜性，包括于此產生的任何專利侵權都為使用者負責。
SAE至少沒五年檢查每一分技術報告，報告可能重申，修訂或者取消。SAE希望得到你的評論和建議。
版權?2004 SAE國際版權所(suo)有。在預(yu)先沒有SAE同意下，不可以(yi)任何形(xing)式或方式復(fu)制，修補(bu)保存(cun)或傳播該出版物的每部(bu)分，電子(zi)的，機(ji)械的，影印，記錄或其他。

2.1.2 ASTM出版物
在ASTM, 100 Barr Harbor Drive, West Conshohocken, PA 19428-2959.可獲得。
ASTM G 113 Standard Terminology Relating to Natural and Artificial for Non-Metallic Materials
ASTM G 130 Standard Method for Calibration of Narrow and Broad-Band Ultraviolet Radiometers Using a Spectroradiometer
ASTM G 147 Standard Practice for conditioning and Handling of Nonmetallic Materials for Natural and Artificial Weathering Tests.
ASTM G 155 Standard Practice for Operating Xenon Arc Light Apparatus for Exposure of Non-Metallic Materials
ASTM G 151 Standard Practice for Exposing Nonmetallic Materials in Accelerated Test Devices that Use laboratory Light Sources.
ASTM G 156 Standard Practice for Selecting and Characterizing Reference Materials Used to Monitor Consistency of Operating Conditions in an Exposure Test.
ASTM D 859, Standard Test Method for Silica in Water
ASTM D 4517, Standard Test Method for Low-Level Total Silica in High-Purity Water by Flameless Atomic Absorption Spectroscopy
ASTM D 523, Standard Test Method for Specular Gloss
ASTM D 660, Standard Test Method for Evaluating Degree of Checking of Exterior Paints
ASTM D 714 Standard Test Method for Evaluating Degree of Blistering of Paints
ASTM D 2244, Standard Test Method for Calculation of Color Differences from Instrumentally Measured Color Coordinates
2.2 相關出版物
以下出版物僅處于信息提供目的且不是本文件的必須部分。
2.2.1 ISO 出版物
在ANSI, 25 West 43rd Street, New York, NY 10036可得到。
ISO 4892-1, Plastics – methods of exposure to laboratory light sources, Part 1, General g uidelines
ISO 4892-2, Plastics – Methods of Exposure to laboratory light sources, Part 2 Xenon arc sources

3 定義
3.1 黑板溫度計，n
3.1.1 溫度測量裝置，涂有黑瓷漆的感溫單位用于吸收在褪色/老化試驗中大部分的輻射能。它涉及到一個非絕緣的黑板。
注明：此裝置估計了試樣暴露在自然或人造光下可能接受到的最大溫度。
3.2 BST–黑色標準溫度計-絕緣的黑板溫度計-參考ASTM G151附錄2的定義。
3.3 其他定義
適用此標準的定義可見ASTM G113。

4 重要性和使用
4.1 此試驗方法旨在模(mo)擬汽車外部遇到(dao)的極端(duan)環境下比如日光，熱(re)和潮濕（以濕度，冷凝或(huo)雨的形式），預測汽車材料(liao)的老化性能。

5 設備
5.1 設備制造商對設備核定負責，提供依照臨界試驗參數的證據負責，包括契約方要求的不同的光譜能量分布（SPDs）。符合試驗的材料應包括很多審核過的標準參照材料，比如試驗纖維聚苯乙烯和AATCC L4 & L2藍色毛織品。器具制造商有責任提供必要資料證明按此標準的所依照的每樣式類型。最少，資料應包含（1）對于250-800nm的所有相關光譜能量分布資料；（2）目前很多標準核準過的參照材料的重復和復制資料。在試驗之前契約方應該對器具試樣達成一致。
注明：一般操作中，不同設備可能給出不同結果。結果依賴于樣本特征和器具設計。更多信息參照ASTM G155 4.3和4.4。
5.2 使用的設備利用氙燈作為輻射光源。裝上樣本使其暴露在試驗室同一條件下。設備可以同時自動地控制輻射強度，黑板溫度，相對濕度和室溫。在試驗前客戶和供應商應對設備制造商和類型達成一致。
5.2.1更多有關設備的描述詳見ASTM G 151和ASTM G155。
5.3 除非契約方另達成一致，應有如ASTM G151所描述的非絕緣黑板溫度計。
注明: (僅為提示) BST–黑色標準溫度計-絕緣的黑板溫度計-參考ASTM G151附錄2的定義。契約方對溫度達成一致。BST比非絕緣黑板高5°C。
5.4 暴露裝置制造商應確保試樣暴露區域的任何方位輻射強度至少為此區域最大光線的70%。
5.4.1試樣放置的位置的輻射強度至少為最大輻射強度的90%。
注(zhu)明：設備制造商提供(gong)輻(fu)射強度等級的核查。

6 設備安裝
6.1 為了最小化可變性，按照制造商說明書維修和校準設備。附錄B描述了參照材料的使用以幫助確定氙燈裝置是否操作適當。
6.2 噴灑和濕化或其他目的的水不應留下不好的沉積物或斑點于暴曬表面。噴淋水不能含有超過1ppm固體物，且硅含量少于0.2ppm。使用ASTM 方法D859或D4517測量硅含量。去離子化合物和反滲透處理可以得到期望的噴淋水純度。在有些情況下，一些試樣的揮發物可能影響試驗箱中其他試樣。
6.3使用合適的光學過濾器以得到期望的光譜能量分布（SPD）。過濾器應提供處于各自范圍現實的SPD。參照典型光譜能量分布范圍附錄CZ中的圖C1或C2和表C1或C2。
注明：附錄C中列出了不同過濾器和能量強度相結合的SPD實例。圖C1和圖C2中的CIE85為日光參照。表C1和C2列出的值從不同設備上的很`多讀數的平均值。一個設備上的一個讀數可能不能準確的匹配表中列出的值。
6.4 選擇計劃(hua)的(de)循環，在以下循環中其提供120分鐘(zhong)光(guang)照(zhao)(zhao)和60分鐘(zhong)黑暗(an)：60分鐘(zhong)黑暗(an)且前(qian)后架噴淋，40分鐘(zhong)光(guang)照(zhao)(zhao)后20分鐘(zhong)光(guang)照(zhao)(zhao)和試(shi)樣前(qian)面(mian)噴淋，之后60分鐘(zhong)光(guang)照(zhao)(zhao)，然后重復。試(shi)驗次序應遵(zun)照(zhao)(zhao)表2設立的(de)情形(xing)。

段	光照	黑暗	噴灑
1	無	60分	前和后
2		不適用	無
3		不適用	前
4		不適用	無

*輻射量（KJ·m^-2·nm^-1）基于J1960方法而列出，其有在340nm下0.55w m^-2·nm^-1的輻射強度(du)。設(she)備(bei)控制寬波段而非窄波段或者(zhe)操作高光(guang)線(xian)等級將不時顯示有不同發光(guang)量。

6.5 操作(zuo)控制面板使設(she)備維持(chi)表3指定的范(fan)圍。如果在設(she)備穩定后(hou)，實(shi)際(ji)控制面板的操作(zuo)條件(jian)不適合機器設(she)置，停止試(shi)驗且(qie)在恢復試(shi)驗前糾正不適合的原因。

表3：控制面板傳(chuan)感器(qi)目標值(zhi)

?????????????????????????????? 黑暗??????????????????????????? 光

控(kong)制(zhi)????????????????????????? 1部(bu)分?????????????????????????? 2、3、4部(bu)分

目標??????????? 公差????????????? 目標??????????? 公差

自動發光????????????? 無?????????????????????????????? 0.55 w m^-2

黑板溫度計(ji)???? ???????38????????????? ±3 °C???????????? 70?????????????? ±3 °C

艙內溫(wen)度(du)（干球溫(wen)度(du)計） 38?????????? ??±3 °C???????????? 47????????????? ?±3 °C

相對濕度????????????? 95????????????? ±5%??????????? ??50?????????????? ±5%

輻射暴露量???????? 見適用說明???????????????????????? 見適用說明

注(zhu)明：公差在每段噴灑(sa)部分不適用。

* 340nm下0.55w m^-2·nm^-1是在J1960列(lie)出的設備默認發光。設備控制寬波(bo)段(duan)而非(fei)窄波(bo)段(duan)將有不(bu)同的值。其他(ta)更(geng)高或更(geng)低的值，契約方達成一(yi)致后可以(yi)使用，但(dan)是他(ta)們使得(de)附錄B中(zhong)顯示的聚(ju)苯乙烯(xi)參照(zhao)材料的列(lie)出值和表2列(lie)出的輻(fu)射量無效。

7 試驗程序

7.1 準備(bei)將暴露的試(shi)(shi)樣，讓其適合使用的試(shi)(shi)樣支(zhi)架。參考ASTM G147面(mian)板的調節和控制。

7.2 試樣大小(xiao)和試樣支架(jia)一致。超(chao)過其大小(xiao)的(de)試樣可能給(gei)出(chu)不(bu)合適的(de)暴露值。從契(qi)約(yue)方(fang)得(de)到關(guan)于材料試驗安(an)裝非(fei)規則大小(xiao)試樣的(de)正確方(fang)法。光源距離(li)是影響接受輻射量和表面(mian)溫(wen)度(du)從而影響暴露結果的(de)主要因(yin)素。按照制造商(shang)的(de)指導使(shi)試樣獲得(de)相(xiang)同光線暴露至關(guan)重要。

注明(ming)：建議密(mi)封所有試(shi)樣(yang)剪切邊緣(yuan)。來自(zi)(zi)鋼板上的腐蝕可能(neng)污染試(shi)樣(yang)。密(mi)封塑(su)料剪切邊緣(yuan)以避免來自(zi)(zi)襯底(di)的副產品。風干(gan)的底(di)漆適合此操(cao)作。參考ASTM G147試(shi)樣(yang)準備和處理。

7.3 用(yong)惰性不反射材料(liao)填補未使用(yong)的縫槽保持(chi)需要的空(kong)氣流(liu)動(dong)。如陽(yang)極電(dian)鍍鋁板。

注明(ming)：高(gao)度反射材料可(ke)能影(ying)響設備操(cao)作。參考制造(zao)商關于設備操(cao)作的說明(ming)書(shu)。

7.4 在設置器具滿足輻射暴露量要求后（Kj·m^-2·nm^-1），以黑(hei)暗(an)循環(huan)為頭(tou)開始試驗。見適用的(de)材料說明。

注明：一(yi)旦暴露開始，設(she)備操作間斷不能超過一(yi)天一(yi)次。多(duo)余的(de)(de)干(gan)擾，如在日常(chang)操作期間打開艙門可能引起試驗(yan)結果的(de)(de)改變。

7.5 對(dui)于一些設備和/或材料，在(zai)暴露期間試(shi)樣(yang)的(de)(de)周期性的(de)(de)重(zhong)新配置應確保每次接(jie)受到相等的(de)(de)輻射(she)暴露量(liang)。如材料沒(mei)有可用資料，試(shi)樣(yang)重(zhong)新配置由契約方達(da)成一致。

7.6 報告性質改變，由契約方達(da)成一致的(de)。

8 評估報告

在指定間隔測量和報告試驗試樣(yang)性質(zhi)改(gai)變，由契約方達成一致。以(yi)下方法可能(neng)使(shi)用：

器具測量

SAE J1545 Instrumental Color Difference Measurement for Exterior Finishes, Textiles and Colored Trim, Recommended Practiceupon by contractual parties. One or more of the following methods may be used;

ASTM D523 Test method for Specular Gloss

ASTM D660 Test Method for Evaluating Degree of Checking of Exterior Paints

ASTM D714 Test Method for Evaluating Degree of Blistering of Exterior Paint

ASTM D2244, Standard Test Method for Calculation of Color Differences from Instrumentally MeasuredColor Coordinates

9 暴露報告

9.1 暴露報告需契約方(fang)達成一(yi)致。

9.2 報告應包(bao)含(han)以下(xia)信息：

9.2.1 一(yi)份(fen)指(zhi)出暴(bao)(bao)露(lu)參照材(cai)料的顏(yan)色改變(bian)暴(bao)(bao)露(lu)報(bao)告（圖1），以(yi)CIELAB為色差單(dan)位，應(ying)和(he)暴(bao)(bao)露(lu)試樣一(yi)同核準。如果任(ren)何色差數(shu)據在(zai)規定公差外(wai)（控制極限），應(ying)在(zai)空(kong)白(bai)處指(zhi)出原(yuan)因和(he)糾正(zheng)。

9.2.2 暴露控制/報告形式應包含以下(xia)附加信息：

9.2.3 實驗室名稱

9.2.4 暴露(lu)設備(bei)類(lei)型和系列號

9.2.5 根據控(kong)制圖標的設備操作描述(shu)年和(he)月。

9.2.6 試驗方法

9.2.7 使用的參照材料(liao)，包(bao)括批號。

9.2.8 操作(zuo)核(he)查頻率，如(ru)間隔每(mei)天，3或7天。

9.2.9 使用參照材料的顏色變(bian)化，目標值和公差(cha)，以CIELAB色差(cha)單位。

9.2.10 參照材料(liao)的(de)每月平均色差。

9.2.11 黑(hei)板溫(wen)度計每日報告（BPT）。

9.2.12 干(gan)球溫度計或測試室內溫度日常報告。

9.2.13 輻射(she)日(ri)常報告。

有SAE紡織品和軟制塑料品委員會準備

圖1

附錄A85

艙內維護和校準

A.1 維護

A.1.1 為了更好的(de)試(shi)驗結(jie)果，必須有(you)規律地清(qing)(qing)(qing)(qing)潔(jie)侵蝕(shi)裝置。一般來說，必要清(qing)(qing)(qing)(qing)潔(jie)頻(pin)率取決于設(she)備使用水的(de)性(xing)質和空氣(qi)的(de)性(xing)質且在實驗室里（清(qing)(qing)(qing)(qing)潔(jie)）。如6.2中提到，在有(you)些情況下，一些樣本滲出材料(liao)到艙內可(ke)(ke)能(neng)對其(qi)他樣本造成(cheng)有(you)害作用。試(shi)樣的(de)腐爛(lan)可(ke)(ke)能(neng)要求更高頻(pin)率清(qing)(qing)(qing)(qing)潔(jie)試(shi)驗艙。

A1.2 關于清潔操作建議，請(qing)參(can)考相應的安(an)裝手冊。對以下關注應特別注意：

試驗艙

調節室（如適用）

氙燈過濾器

光學組件

黑(hei)色傳感器（BPT或BST）

氙氣燈

A.1.3 噴(pen)嘴(zui)堵塞(sai)(sai)跡象進行檢查。如(ru)果連續(xu)發生堵塞(sai)(sai)，在水位(wei)線下(xia)需(xu)要(yao)另(ling)外的過濾器。按照制造商建議取(qu)代噴(pen)嘴(zui)。

A.2 替換進度表

A.2.1.1 燈裝配和(he)相關部分

一般來說，當(dang)達不到規(gui)定(ding)輻射或(huo)可見退化(hua)跡象時(shi)，應替換氙燈或(huo)過(guo)濾器(qi)。另外，嚴格堅持制造商關于耗(hao)材的(de)替換建議，特別是以下情(qing)況：

氙燈

氙燈過濾器

光學組件

A.2.2 當不能(neng)維持表面光澤或當可見裸露金屬(shu)時，替換(huan)黑板傳感器。

A.2.3 如適用，每周檢查濕球溫度(du)計吸條，當觀測到污點(dian)或礦物(wu)累積(ji)物(wu)時替換。在所有情況下，遵照制造商關于濕度(du)體系裝置的維護和(he)合理操作的說明。

A.3 校準檢查

A.3.1 每日檢查控制(zhi)和計劃（除(chu)了(le)周末(mo)和假(jia)日）以確保(bao)滿(man)足(zu)試驗參數要(yao)求。

A.3.2 按照(zhao)制造商操作指南詳細(xi)介紹(shao)每2周校準(zhun)設備。建議(yi)在每周的(de)同一天進行校準(zhun)。

附錄B：耐光照色牢度測量程序

B1 范圍

B.1.1 附錄B描述了使用聚苯乙烯(xi)耐光標準件作為參照塑(su)料品幫助確定氙弧設(she)備是否操作適當。

B.1.2 在每次(ci)校準(zhun)后（每兩周）使用聚苯乙烯標準(zhun)件(jian)達到千焦每小時的規(gui)定量。

B.1.3 通過儀器(qi)在規定輻(fu)射量(liang)(liang)達到前后測量(liang)(liang)參照塑料可獲得(de)以(yi)CIELAB為單位的色差值。

B.1.4 聚苯乙烯耐光標準件暴露在輻射量下（如340nm下Kj·m^-2·nm^-1），其等價于2到7天時期。

注明：Delta b值基于J1960試驗方法而提供。其不適用于使用更高或更低發光水平的試驗或使用多功能過濾器而非UV加強過濾器的試驗。控制寬波段UV而非窄頻的侵蝕儀器應使用等價的寬波段輻射量以得到目標服務值。記下等價340nm下0.55w m^-2·nm^-1的寬波段（300到400nm）近似60 w m^-2。

B2 程序

B.2.1 此方法用于測定(ding)色差(cha)所要求操作能(neng)力的(de)工(gong)具包括了鏡(jing)面組件，使(shi)用illuminant D-65, 10 度觀(guan)測員資料提供色差(cha)值。不允許替換。可以進行發(fa)射(she)或者反射(she)形(xing)式測量。僅使(shi)用20mm或更(geng)大(da)的(de)孔徑(jing)。

B.2.2 按照制造(zao)商(shang)說明校準(zhun)用于色差測(ce)量的器具。

B.2.3 參考材(cai)料測(ce)量

B.2.3.1 反(fan)射類型

B.2.3.1.1 在一未(wei)暴露參照塑(su)料后裝上用于校準的(de)白(bai)瓷磚對著器具樣本端。

注明(ming)：小心避免任(ren)何周圍光線的干擾。

注(zhu)明：為了(le)保持白色校(xiao)準(zhun)瓷(ci)磚(zhuan)(zhuan)表(biao)面，建議(yi)購買第二(er)塊校(xiao)準(zhun)瓷(ci)磚(zhuan)(zhuan)。

B.2.3.1.2 進行一次初(chu)始讀數(shu)。保(bao)存此讀數(shu)，作為參照讀數(shu)。轉到B2.4步。

B.2.3.2 發(fa)射類型

B.2.3.2.1 按照制造商說(shuo)明將(jiang)(jiang)未暴露參照塑料置(zhi)于(yu)合適位置(zhi)。如無明確建議，將(jiang)(jiang)薄片盡可能近置(zhi)于(yu)探測器。

B.2.3.2.2 將校準用的白瓷磚(zhuan)對(dui)著器具外(wai)樣本端(duan)。

注明：為了(le)保持白(bai)色校準瓷磚表面，建議購買(mai)第(di)二塊校準瓷磚。

B.2.3.2.3 進行一次初(chu)始(shi)讀數。保存此讀數，作為參照讀數。

B.2.4 將一參(can)照(zhao)塑料放于樣本支架(jia)，并系在(zai)加載彈簧支持裝置上(shang)。

B.2.5 將其(qi)固定在鄰近黑板溫度計的樣本架上(shang)。

B.2.6 以黑暗循環為頭打開暴露裝置，且進行2到7天的等價能量期（如340nm下KJ·m^-2·nm^-1）暴露參照塑料。

B.2.7 在(zai)到達輻(fu)射(she)暴露量后(hou)，從設備上移走參照塑料。

B.2.8 檢查(cha)表(biao)面水斑(ban)。如果發現(xian)水斑(ban)，用(yong)白色滲水粗棉(mian)布(bu)小心去除(chu)。使用(yong)另外白色粗棉(mian)布(bu)完全(quan)擦干參(can)照塑料。水斑(ban)通常代(dai)表(biao)水質量(liang)不合適。水斑(ban)問題應立即(ji)調(diao)查(cha)和糾正。

B.2.8.1 小(xiao)心不要劃花(hua)參照塑料，這(zhe)樣可能影響(xiang)測(ce)量(liang)結果。

B.2.9 重復(fu)B.2.3.1或B2.3.2規定(ding)的色(se)差測(ce)量步驟于參(can)照塑料的暴(bao)露(lu)區域，并測(ce)量delta b*色(se)差值。

B.2.10 與使(shi)用循環的曲線圖比較delta b*讀數。

B.2.11 標準參照材料供應商為(wei)聚苯乙烯(xi)片的購買提(ti)供了曲線圖。

B.2.12 如果delta b*并沒(mei)落在(zai)標(biao)準參考委員會預先規定(ding)之內，立即按照B2.3-B2.11部分試驗(yan)其他聚苯(ben)乙(yi)烯片。如果聚苯(ben)乙(yi)烯參照標(biao)準仍在(zai)規定(ding)之外，停止試驗(yan)直(zhi)到問題解決(jue)。

B.2.13 聚苯乙烯的目(mu)的是監(jian)控試驗成果。其出于(yu)統計學過程管理（SPC）目(mu)的。在范圍(wei)之外的一點(dian)并不能表示試驗無效。

附錄C：擴展UV過濾器和日光過濾器的典型光譜能量分布

表C1：擴展UV過濾器（J1960 光譜）

注明1：擴展UV過濾(lv)器的紫(zi)外(wai)光(guang)(guang)線是11%且(qie)近紅外(wai)光(guang)(guang)線可見度是89%，其光(guang)(guang)線波長為290nm到800nm（CIE出(chu)版(ban)物NO.85：1989）。當進(jin)行試(shi)驗時，由(you)于試(shi)樣(yang)的反射(she)性質(zhi)和數目，在試(shi)樣(yang)平面(mian)測量的值將(jiang)改變30%。

注明2：在340nm， 0.55Wm^-2·nm^-1下校準和操作擴展UV光譜燈。寬波段，300-400nm，等價近似60W m^-2。

注明3：表C1含的(de)SPD數(shu)據使用了“矩(ju)形”綜合方法(fa)得來。數(shu)據是基于250到400mm帶通(tong)的(de)81個光譜(pu)和用于400-800nm的(de)37個相同(tong)光譜(pu)。矩(ju)形方法(fa)的(de)公(gong)式如下：

當光(guang)譜以(yi)2nm為增量時，在(zai)指定(ding)帶通使(shi)用矩形(xing)積(ji)分計算光(guang)線(xian)。

（等式1）

這里：Ixy=帶通內，低波段x和高(gao)波段y的總光線。

X=最低波段

Y=最高波段

In=在x和y帶(dai)通內波長為n的(de)光(guang)線。

其他(ta)綜合技術可以用于估(gu)計SPD，但可能(neng)得到不同(tong)結果。當和表C1比較光(guang)譜能(neng)量分布時，應使用同(tong)樣的綜合方法，矩形法。

圖C1：擴展UV和日光SPD曲線圖

表C2：日光過濾器

注明1：對(dui)于帶日光過濾(lv)器的氙弧(hu)燈(deng)，有低于290nm的小(xiao)但重要的光線。短波UV發射(she)量取決于發射(she)和使用過濾(lv)器的年(nian)限(xian)。

注明2：氙弧資料-所(suo)給范圍是(shi)基于(yu)111個光(guang)譜分(fen)布，其(qi)是(shi)由(you)帶不同類型和年限的(de)(de)日(ri)光(guang)過(guo)濾器(qi)氙弧裝(zhuang)置測得。此范圍基于(yu)來自數據平均值的(de)(de)2個sigma極限。考慮到此標(biao)準要求，氙弧過(guo)濾器(qi)比(bi)表中所(suo)示(shi)提(ti)供了更(geng)似日(ri)光(guang)的(de)(de)光(guang)譜能量分(fen)布。

注明3：表(biao)C2含的(de)(de)(de)SPD數據使用了“矩(ju)形”綜(zong)合方(fang)法得來。數據是基(ji)于250到400mm帶通的(de)(de)(de)111個光譜和用于400-800nm的(de)(de)(de)86個相同光譜。矩(ju)形方(fang)法的(de)(de)(de)公式如下：

當光譜以2nm為增量(liang)時，在(zai)指(zhi)定(ding)帶通內使用矩形積(ji)分計算光線(xian)。

（等式2）

這里(li)：Ixy=帶通內，低波段x和高波段y的(de)總光線。

X=最低波段

Y=最高波段

In=在x和y帶通內波長為n的光(guang)線。

其他綜(zong)合技術可以用于估計SPD，但可能(neng)得到不同結果。當和表C1比較光譜能(neng)量分布時，應(ying)使用同樣的綜(zong)合方法(fa)(fa)，矩(ju)形法(fa)(fa)。

圖C2：日光過濾器vs日光光譜能量分布

基本原理

不適用

SAE標準和ISO標準的關系

不適用